Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Волкова Е. В. |
---|---|
Tác giả khác: | Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. |
Định dạng: | Книга |
Ngôn ngữ: | Russian |
Được phát hành: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
Truy cập trực tuyến: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Bằng: Круглов А. В.
Được phát hành: (2022) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Bằng: Елманов Г. Н.
Được phát hành: (2011) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Bằng: Кузнецова Ю. В.
Được phát hành: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
Bằng: Кузнецова, Ю. В. - Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография