Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Книга |
| Lenguaje: | Russian |
| Publicado: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Acceso en línea: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|