Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Daljnji autori: | , |
| Format: | Книга |
| Jezik: | Russian |
| Izdano: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Online pristup: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|