Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Natura: | Книга |
| Lingua: | Russian |
| Pubblicazione: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|