Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | , |
| Formaat: | Книга |
| Taal: | Russian |
| Gepubliceerd in: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Online toegang: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|