Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả khác: | , |
| Định dạng: | Книга |
| Ngôn ngữ: | Russian |
| Được phát hành: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Truy cập trực tuyến: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|