تخطي إلى المحتوى

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Тихов С. В.
مؤلفون آخرون: Шиляев П. А.
التنسيق: Книга
اللغة:Russian
منشور في: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
الوصول للمادة أونلاين:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!