Anar al contingut

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Тихов С. В.
Altres autors: Шиляев П. А.
Format: Книга
Idioma:Russian
Publicat: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Accés en línia:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!