Weiter zum Inhalt

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Тихов С. В.
Weitere Verfasser: Шиляев П. А.
Format: Книга
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Online Zugang:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!