Μετάβαση στο περιεχόμενο

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Тихов С. В.
Άλλοι συγγραφείς: Шиляев П. А.
Μορφή: Книга
Γλώσσα:Russian
Έκδοση: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Διαθέσιμο Online:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!