Ir para o conteúdo

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Тихов С. В.
Outros Autores: Шиляев П. А.
Formato: Книга
Idioma:Russian
Publicado em: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Acesso em linha:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!