Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие
Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | Николичев Д. Е. |
---|---|
Awduron Eraill: | Боряков А. В. |
Fformat: | Книга |
Iaith: | Russian |
Cyhoeddwyd: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2011
|
Mynediad Ar-lein: | https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg |
Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Eitemau Tebyg
-
Основы сканирующей зондовой микроскопии
gan: Корнилов В. М.
Cyhoeddwyd: (2011) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
gan: Корнилов В. М.
Cyhoeddwyd: (2011) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
gan: Елманов Г. Н.
Cyhoeddwyd: (2011) - Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие
-
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
gan: Круглов А. В.
Cyhoeddwyd: (2022)