Пропуск в контексте

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Николичев Д. Е.
Andre forfattere: Боряков А. В.
Format: Книга
Sprog:Russian
Udgivet: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
Online adgang:https://e.lanbook.com/book/153530
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!

Lignende værker