Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие
Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...
Сохранить в:
Hovedforfatter: | Николичев Д. Е. |
---|---|
Andre forfattere: | Боряков А. В. |
Format: | Книга |
Sprog: | Russian |
Udgivet: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2011
|
Online adgang: | https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Lignende værker
-
Основы сканирующей зондовой микроскопии
af: Корнилов В. М.
Udgivet: (2011) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
af: Корнилов В. М.
Udgivet: (2011) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
af: Елманов Г. Н.
Udgivet: (2011) - Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие
-
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
af: Круглов А. В.
Udgivet: (2022)