Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

पूर्ण विवरण

में बचाया:

ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक:	Николичев Д. Е.
अन्य लेखक:	Боряков А. В.
स्वरूप:	Книга
भाषा:	Russian
प्रकाशित:	Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
ऑनलाइन पहुंच:	https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
टैग :	टैग जोड़ें कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!

समान संसाधन

Основы сканирующей зондовой микроскопии
द्वारा: Корнилов В. М.
प्रकाशित: (2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
द्वारा: Корнилов В. М.
प्रकाशित: (2011)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
द्वारा: Елманов Г. Н.
प्रकाशित: (2011)

Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие

Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
द्वारा: Круглов А. В.
प्रकाशित: (2022)

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии сборник докладов xi международной конференции, минск, 21–24 октября 2014 г.

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
प्रकाशित: (2016)

Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС учебно-методическое пособие
द्वारा: Николичев Д. Е.
प्रकाशित: (2013)

Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
प्रकाशित: (2014)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
द्वारा: Сергеев В. А.
प्रकाशित: (2022)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
द्वारा: Сергеев, В. А.

Физика наносистем монография
द्वारा: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем монография
द्वारा: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем Монография
द्वारा: Сергеев Н.А

Физика наносистем Монография
द्वारा: Кульбачинский В. А.

Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии учебное пособие
द्वारा: Николичев Д. Е.
प्रकाशित: (2014)

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
द्वारा: Волкова Е. В.
प्रकाशित: (2014)

Новая локальная история макрорегиона
द्वारा: Булыгина, Т. А., और अन्य
प्रकाशित: (2018)

Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме: электронная оже-спектроскопия учебно-методическое пособие
द्वारा: Фомин Д. В.

Новая локальная история макрорегиона практикум
द्वारा: Булыгина, Т. А.

Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
द्वारा: Круглов А. В.
प्रकाशित: (2022)

Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
द्वारा: Морозова, К. Н.

Основы компьютерного моделирования наносистем
द्वारा: Ибрагимов И. М.
प्रकाशित: (2022)

Основы сканирующей зондовой микроскопии
द्वारा: Миронов В. Л.

Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии Статья
द्वारा: Жихарев А.В

Моделирование структуры и свойств наносистем учебно-методическое пособие
द्वारा: Звонарев, С. В.

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
द्वारा: Литвинов В. Г.
प्रकाशित: (2017)

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
द्वारा: Литвинов, В. Г.

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
द्वारा: Миронов С. Ю.
प्रकाशित: (2023)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
द्वारा: Филимонова Н. И.
प्रकाशित: (2016)

Методы зондовой микроскопии учебное пособие
द्वारा: Рыбин Н. Б.
प्रकाशित: (2014)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
द्वारा: Филимонова, Н. И.

Методы зондовой микроскопии учебное пособие

Элементарное введение в теорию наносистем
द्वारा: Давыдов С. Ю.
प्रकाशित: (2022)

Моделирование магнитных свойств дисперсных наносистем
द्वारा: Ситников, Т. В.
प्रकाशित: (2018)

Методы исследования наноматериалов и наносистем
द्वारा: Шевченко, И. М., और अन्य
प्रकाशित: (2023)

Методы диагностики и анализа наносистем
द्वारा: Шевченко, И. М., और अन्य
प्रकाशित: (2023)

Технология полупроводниковых материалов
द्वारा: Александров С. Е.
प्रकाशित: (2022)

Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС описание лабораторной работы
प्रकाशित: (2001)

Методы диагностики и анализа наносистем Учебное пособие