Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

保存先:

書誌詳細
第一著者:	Николичев Д. Е.
その他の著者:	Боряков А. В.
フォーマット:	Книга
言語:	Russian
出版事項:	Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
オンライン･アクセス:	https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
タグ:	タグ追加タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!

類似資料

Основы сканирующей зондовой микроскопии
著者:: Корнилов В. М.
出版事項: (2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
著者:: Корнилов В. М.
出版事項: (2011)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
著者:: Елманов Г. Н.
出版事項: (2011)

Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие

Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
著者:: Круглов А. В.
出版事項: (2022)

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии сборник докладов xi международной конференции, минск, 21–24 октября 2014 г.

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
出版事項: (2016)

Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС учебно-методическое пособие
著者:: Николичев Д. Е.
出版事項: (2013)

Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
出版事項: (2014)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
著者:: Сергеев В. А.
出版事項: (2022)

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие
著者:: Сергеев, В. А.

Физика наносистем монография
著者:: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем монография
著者:: Сергеев, Н. А.

Физика наносистем Монография
著者:: Сергеев Н.А

Физика наносистем Монография
著者:: Кульбачинский В. А.

Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии учебное пособие
著者:: Николичев Д. Е.
出版事項: (2014)

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
著者:: Волкова Е. В.
出版事項: (2014)

Новая локальная история макрорегиона
著者:: Булыгина, Т. А., 等
出版事項: (2018)

Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме: электронная оже-спектроскопия учебно-методическое пособие
著者:: Фомин Д. В.

Новая локальная история макрорегиона практикум
著者:: Булыгина, Т. А.

Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
著者:: Круглов А. В.
出版事項: (2022)

Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
著者:: Морозова, К. Н.

Основы компьютерного моделирования наносистем
著者:: Ибрагимов И. М.
出版事項: (2022)

Основы сканирующей зондовой микроскопии
著者:: Миронов В. Л.

Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии Статья
著者:: Жихарев А.В

Моделирование структуры и свойств наносистем учебно-методическое пособие
著者:: Звонарев, С. В.

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
著者:: Литвинов В. Г.
出版事項: (2017)

Фундаментальные основы физики наносистем учебное пособие
著者:: Литвинов, В. Г.

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
著者:: Миронов С. Ю.
出版事項: (2023)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
著者:: Филимонова Н. И.
出版事項: (2016)

Методы зондовой микроскопии учебное пособие
著者:: Рыбин Н. Б.
出版事項: (2014)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
著者:: Филимонова, Н. И.

Методы зондовой микроскопии учебное пособие

Элементарное введение в теорию наносистем
著者:: Давыдов С. Ю.
出版事項: (2022)

Моделирование магнитных свойств дисперсных наносистем
著者:: Ситников, Т. В.
出版事項: (2018)

Методы исследования наноматериалов и наносистем
著者:: Шевченко, И. М., 等
出版事項: (2023)

Методы диагностики и анализа наносистем
著者:: Шевченко, И. М., 等
出版事項: (2023)

Технология полупроводниковых материалов
著者:: Александров С. Е.
出版事項: (2022)

Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС описание лабораторной работы
出版事項: (2001)

Методы диагностики и анализа наносистем Учебное пособие