Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие
Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Николичев Д. Е. |
---|---|
Tác giả khác: | Боряков А. В. |
Định dạng: | Книга |
Ngôn ngữ: | Russian |
Được phát hành: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2011
|
Truy cập trực tuyến: | https://e.lanbook.com/book/153530 https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
Основы сканирующей зондовой микроскопии
Bằng: Корнилов В. М.
Được phát hành: (2011) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
Bằng: Корнилов В. М.
Được phát hành: (2011) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Bằng: Елманов Г. Н.
Được phát hành: (2011) - Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие
-
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы
Bằng: Круглов А. В.
Được phát hành: (2022)