Chuyển đến nội dung

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Николичев Д. Е.
Tác giả khác: Боряков А. В.
Định dạng: Книга
Ngôn ngữ:Russian
Được phát hành: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
Truy cập trực tuyến:https://e.lanbook.com/book/153530
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự